最后，对图9中，样片2所示的黑心内外做SIMS测试，测试结果如表2所示。SIMS测试结果显示，黑心内外各种杂质含量正常。

表2样片2 SIMS测试


3.0出现黑芯或黑斑的原因

引起电池片出现黑芯或黑斑的原因大体有两个：一个为杂质离子含量过高，另一个为硅片本身存在缺陷，即位错。

位错又可称为差排（英语：dislocation），在材料科学中，指晶体材料的一种内部微观缺陷，即原子的局部不规则排列（晶体学缺陷）。从几何角度看，位错属于一种线缺陷，可视为晶体中已滑移部分与未滑移部分的分界线，其存在对材料的物理性能，尤其是力学性能，具有极大的影响。

如果硅片中存在着极高的位错密度，成为少数载流子的强复合中心，使得少子寿命短，最终导致电池性能的严重下降。

综上所述，黑芯片会使组件功率降低，热斑效应严重，组件寿命大大降低。（作者微信公众账号：光伏经验网）

附：
参考文献
【1】黑心电池片和衰减的研究，常州华阳光伏检测技术有限公司。
【2】张光春，硅片质量对太阳能电池性能的影响，尚德电力控股有限公司。
【3】单晶位错对电池性能的影响，尚德电力控股有限公司。
【4】形成黑芯片、黑斑片主要成因，尚德电力控股有限公司。

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