对电池片进行电致发光EL测试，如下图3和4所示。其黑心和黑斑现象如组件EL测试所见。


光照条件电池电性能测试如表1 所示。

表1 光照条件电池电性能测试



两片电池效率分别为11.06%和13.99%，Isc 分别为4.73A 和4.62A，均明显偏低；而此类正常电池片效率一般为17.5%左右，Isc 为5.3A 左右。

电池光诱导电流密度（LBIC Current）测试如图5 和6 所示。

然后，电池经过去SiN 膜、去正反电极、去铝背场和n 型层，再经碘酒钝化后，硅片少子寿命测试如图7 和8 所示。


硅片少子寿命测试与电池光诱导电流密度（LBIC Current）测试和电池EL 测试具有很好的对应关系，说明造成电池效率低的原因为硅片本身内部缺陷所致，与电池工艺没有直接关系。

对硅片进行化学抛光和Wright 液腐蚀，样片2 呈现出明显的与EL 测试、电流密度（LBIC Current）测试和少子寿命测试相对应的图案形貌，如图9 所示。


样片1 的光学显微观察如图10 和11 所示，局部区域具有很高的位错密度达10E5~10E6 左右。样片2 的光学显微观察如图12 和13 所示，在如图9 所示的中心圆形图案形貌内，其位错密度均高达10E6~10E7 左右。黑斑边缘区域位错密度>106 个/cm2 均为无位错单晶要求1000～10000 倍，这是相当大的位错密度。