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PVEL组件测试拟增加背板耐久性和热辅助光致衰减敏感性内容
日期:2019-08-30   [复制链接]
责任编辑:chengling 打印收藏评论(0)[订阅到邮箱]
编者按:PV Evolution Labs(PVEL)近期正在增加新的测试方案,方案中增加背板耐久性和热辅助光致衰减敏感性内容可以解决日益增长的、与热辅助光致衰减敏感性相关的问题 ,更好的响应下游市场需求。

PV Evolution Labs(PVEL)在光伏组件产品鉴定计划(PQP)中包括了许多重要的组件可靠性测试,这令鉴定计划可以更好的响应下游市场需求。

PVEL正在增加新的测试方案,用于解决日益增长的、与热辅助光致衰减敏感性相关的问题。 PVEL还会解决长期存在的、与光伏组件背板耐久性以及太阳能电池微裂纹敏感度相关的问题。

PV Tech最近表示,杜邦公司光伏与先进材料最新发布的“全球光伏可靠性研究”显示,与2018年报告相比,缺陷率大幅增长了47%。该研究报告的重心是650万块组件背板材料的现场检查和分析。

PVEL指出,它至少更新了一个区域PQP中的所有序列内容。

PVEL还减少了所需的光伏组件样本总量,同时将热循环等测试的测试时间缩短了25%,在保持数据质量和完整性的同时提供了更快速的报告。公司表示,这部分内容是通过更好的输入信息和界定流程实现的。

PV Tech与DNV GL合作对PVEL的第5版光伏组件可靠性记分卡进行了详细分析。分析使用了更严格的测试机制,用于解决对标准测试中出现的失效现象了解有限的问题。

原标题:PVEL组件测试拟增加背板耐久性和热辅助光致衰减敏感性内容
 
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来源:PV-Tech新闻
 
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